當(dāng)環(huán)境濕度與壓力升高時(shí)，水汽會(huì)通過(guò)密封縫隙、微裂紋等薄弱點(diǎn)侵入材料內(nèi)部；

高溫則會(huì)加劇材料的老化與膨脹，放大密封結(jié)構(gòu)的間隙，加速泄漏過(guò)程；

試驗(yàn)后通過(guò)檢測(cè)材料內(nèi)部的水汽含量、電學(xué)性能變化、外觀腐蝕等指標(biāo)，即可精準(zhǔn)判斷密封性能是否達(dá)標(biāo)。

檢測(cè)電路板的絕緣電阻變化，判斷層間密封是否失效；

觀察 IC 封裝膠體是否出現(xiàn)開(kāi)裂、引腳是否銹蝕，評(píng)估封裝工藝的密封性。

測(cè)試液晶屏是否出現(xiàn)漏液、顯示異常，驗(yàn)證邊框密封膠的耐老化性；

監(jiān)測(cè) LED 的光通量衰減率，判斷硅膠封裝是否有效阻隔水汽。

檢測(cè)半導(dǎo)體材料的漏電流變化，評(píng)估鈍化層的密封性；

驗(yàn)證封裝殼的焊接或釬焊工藝是否存在微縫，防止腐蝕性氣體侵入。

觀察材料表面是否出現(xiàn)銹點(diǎn)、涂層是否剝落，評(píng)估密封防護(hù)效果；

測(cè)試?yán)匣蟮拇磐繐p失率，判斷密封失效對(duì)磁性能的影響程度。

研發(fā)階段：幫助工程師優(yōu)化密封結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（如多層電路板的層壓工藝、IC 封裝的膠體選型），通過(guò)對(duì)比不同方案的測(cè)試數(shù)據(jù)，篩選出密封方案；

生產(chǎn)環(huán)節(jié)：作為出廠前的質(zhì)量把關(guān)工具，剔除因工藝瑕疵導(dǎo)致的密封不良產(chǎn)品（如 LED 封裝膠氣泡、磁鐵鍍層針孔）；

應(yīng)用端：為汽車(chē)電子、航空航天、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域提供可靠性背書(shū)，確保材料在環(huán)境下（如汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)艙、醫(yī)療消毒環(huán)境）的密封性能長(zhǎng)期穩(wěn)定。